Amorphe Oxiddünnschicht, Dünnfilmtransistor damit sowie Verfahren zur Herstellung des Dünnschichttransistors

EP2533293 Art A1 12. Dezember 2012

Anmelder: NEC Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2533293
Aktenzeichen
EP11737215
Anmeldetag
1. Februar 2011
Veröffentlichung
12. Dezember 2012
Rechtsraum
EP
IPC
H01L29/786C23C14/08C23C14/34H01L21/363H01L21/368
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
NEC Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 NEC

Japanischer Technologiekonzern mit Sitz in Tokio, der IT- und Netzwerklösungen, Telekommunikationsausrüstung sowie Sicherheits- und Biometrietechnik anbietet.

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