Raster-Mikroskop und Verfahren zum Optischen Abtasten einer oder mehrerer Proben
EP2534520
Art A1
19. Dezember 2012
Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2534520
- Aktenzeichen
- EP11706778
- Anmeldetag
- 11. Februar 2011
- Veröffentlichung
- 19. Dezember 2012
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Leica Microsystems CMS GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Leica Microsystems
Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.
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