Instrument zur Herstellung von Weitfeldbildern eines Prüfobjekts mit Verschiedenen Tiefen
Anmelder: Consejo Superior De Investigaciones Científicas (CSIC) 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2544037
- Aktenzeichen
- EP11750230
- Anmeldetag
- 22. Februar 2011
- Veröffentlichung
- 9. Januar 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G02B21/00G02B27/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Consejo Superior De Investigaciones Científicas (CSIC)
- Land
- 🇪🇸 Spanien
Größte staatliche Forschungseinrichtung Spaniens mit Sitz in Madrid, tätig in nahezu allen Wissenschaftsbereichen von Naturwissenschaften bis Geisteswissenschaften. Die Institution (CSIC) betreibt zahlreiche Forschungszentren im ganzen Land.
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Fachgebiete
1891 von Agustín Ungría Castro als „Casa Agustín Ungría“ gegründet, eine der längsten Firmengeschichten im spanischen gewerblichen Rechtsschutz. Über Madrid hinaus mit eigenen Büros in Europa sowie über Ungria USA und Ungria Latam in Nord- und Lateinamerika vertreten.