Beschichtete Struktur zur Messung der Intensität von Reflektiertem Licht, mit der Beschichteten Struktur zur Messung der Intensität von Reflektiertem Licht Ausgestattete Vorrichtung sowie Verfahren zur Bestimmung der Dicke Und/oder Viskosität einer Dünnschicht
EP2546633
Art A1
16. Januar 2013
Anmelder: Tokyo Institute of Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2546633
- Aktenzeichen
- EP11753443
- Anmeldetag
- 10. März 2011
- Veröffentlichung
- 16. Januar 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N21/45G01N33/543G01N21/27G01B11/06G01N5/02G01N11/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Tokyo Institute of Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Tokyo Institute of Technology
Japanische technische Universität in Tokio mit Schwerpunkt auf Natur- und Ingenieurwissenschaften. Seit 2024 firmiert sie im Zuge einer Fusion als Institute of Science Tokyo.
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Lind, Urban Arvid Oskar
Göteborg, Schweden
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