Integrierter Speicherselbsttest auf der Basis eines Generischen Verlaufselements
EP2548205
Art A1
23. Januar 2013
Anmelder: Technische Universiteit Delft 🇳🇱
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2548205
- Aktenzeichen
- EP11712344
- Anmeldetag
- 16. März 2011
- Veröffentlichung
- 23. Januar 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G11C29/16G11C29/10G11C29/56G11C29/12G11C29/36
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Technische Universiteit Delft
- Land
- 🇳🇱 Niederlande
🇳🇱
Technische Universiteit Delft
Niederländische Technische Universität in Delft mit breiter Forschung in Ingenieurwissenschaften und angewandter Technik.
569 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Bot, David Simon Maria
Den Haag, Niederlande
85
Patente gesamt
23
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Nederlandsch Octrooibureau
Nederlandsch Octrooibureau · Den Haag