Refraktionstomografie mit Komplexem Index und Erhöhter Auflösung

EP2553513 Art B1 28. Oktober 2020

Anmelder: Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL), Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (EPFL) 🇨🇭

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2553513
Aktenzeichen
EP11727289
Anmeldetag
28. März 2011
Veröffentlichung
28. Oktober 2020
Erteilung
28. Oktober 2020
Rechtsraum
EP
IPC
G02B21/36// G03H1/00
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen
Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)
Ecole Polytechnique Federale de Lausanne (EPFL)
Land
🇨🇭 Schweiz

Fachgebiete

Optik & Fototechnik
Vertreten von
Reuteler, Raymond Werner Les Avanchets, Schweiz
173
Patente gesamt
29
Fachgebiete
10
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Medizintechnik & Gesundheit Elektrische Energietechnik Fahrzeugtechnik (Automobil, Bahn & Schiff) Energie- & Antriebstechnik (Kraftmaschinen) Halbleiter & Elektrische Bauelemente
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