Prüfvorrichtung und -Verfahren für Integrierten Schaltkreischip

EP2553579 Art A1 6. Februar 2013

Anmelder: Advanced Micro Devices, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2553579
Aktenzeichen
EP11711738
Anmeldetag
25. März 2011
Veröffentlichung
6. Februar 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G06F11/22G01R31/3185G06F11/267
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
Advanced Micro Devices, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Advanced Micro Devices

US-amerikanischer Halbleiterhersteller (AMD) mit Sitz in Santa Clara, Kalifornien, bekannt für Prozessoren, Grafikchips und Server-CPUs.

1.708 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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