Kombination aus Teilchenstrahl- und Fluoreszenzmikroskop

EP2557588 Art B1 12. Juli 2017

Anmelder: JEOL LTD., Inter-University Research Institute Corporation National Institutes of Natural Sciences, Nagayama, Kuniaki, JEOL Ltd., Nagayama IP Holdings, LLC 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2557588
Aktenzeichen: EP11765941
Anmeldetag: 6. April 2011
Veröffentlichung: 12. Juli 2017
Erteilung: 12. Juli 2017
Rechtsraum: EP
IPC: H01J37/26H01J37/141H01J37/16H01J37/20H01J37/22

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firmen: JEOL LTD.
Inter-University Research Institute Corporation National Institutes of Natural Sciences
Nagayama, Kuniaki
JEOL Ltd.
Nagayama IP Holdings, LLC
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 JEOL

Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, das wissenschaftliche und industrielle Präzisionsgeräte entwickelt, darunter Elektronenmikroskope, Analysegeräte und Halbleiterfertigungsanlagen.

288 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

Vertreten von