Vorrichtung zur interferometrischen Abstandsbestimmung zwischen zwei parallelen Platten
EP2565578
Art B1
19. Dezember 2018
Anmelder: Dr. Johannes Heidenhain GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2565578
- Aktenzeichen
- EP12177860
- Anmeldetag
- 25. Juli 2012
- Veröffentlichung
- 19. Dezember 2018
- Erteilung
- 19. Dezember 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G01B11/14
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Dr. Johannes Heidenhain GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Dr. Johannes Heidenhain
Deutscher Hersteller von Mess- und Steuerungstechnik, darunter Längen- und Winkelmessgeräte, Drehgeber sowie CNC-Steuerungen für Werkzeugmaschinen und Präzisionsfertigung.
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