Halbleiterbauteil mit Defektreicher Schicht zur Optimalen Kontaktierung von Emittern sowie Verfahren zu dessen Herstellung

EP2569805 Art A1 20. März 2013

Anmelder: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2569805
Aktenzeichen: EP11717511
Anmeldetag: 5. Mai 2011
Veröffentlichung: 20. März 2013
Rechtsraum: EP
IPC: H01L31/0216H01L31/0224H01L31/18

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V.
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Fraunhofer-Gesellschaft

Deutsche gemeinnützige Forschungsorganisation mit Sitz in München. Betreibt anwendungsorientierte Forschung in Technik und Naturwissenschaften über zahlreiche Institute für Industrie und Gesellschaft.

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Fachgebiete

Halbleiter & Elektrische Bauelemente

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