Änderung von Rasterkraftmikroskopiespitzen durch Ablagerung von Nanopartikeln mit einer Aggregatquelle
EP2570815
Art B1
17. Februar 2021
Anmelder: Consejo Superior De Investigaciones Científicas (CSIC) 🇪🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2570815
- Aktenzeichen
- EP11780248
- Anmeldetag
- 4. Mai 2011
- Veröffentlichung
- 17. Februar 2021
- Erteilung
- 17. Februar 2021
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01Q60/42G01Q60/56C23C14/22
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Consejo Superior De Investigaciones Científicas (CSIC)
- Land
- 🇪🇸 Spanien
Kanzlei
Protectia Patentes y Marcas, S.L.
Madrid, Spanien
Protectia Patentes y Marcas mit Hauptsitz in Madrid, spezialisiert auf Anmeldung und Verteidigung von Marken, Patenten und Designs. Vertritt vor OEPM, EUIPO, EPA und im PCT-Verfahren, deckt zudem Urheberrecht, Softwareschutz und Geschäftsgeheimnisse ab.
183
Patente gesamt
1
Patentanwälte
1
Standorte
Weitere Vertreter
-
Mato Adrover, Ángel Luis
NoneMadrid