Elektronenmikroskop und Verfahren zur Einstellung der Sichtachse Dieses Elektronenmikroskops
EP2573792
Art A1
27. März 2013
Anmelder: Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2573792
- Aktenzeichen
- EP11783212
- Anmeldetag
- 20. April 2011
- Veröffentlichung
- 27. März 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/04H01J37/147H01J37/22H01J37/26
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Hitachi High-Technologies Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
3.840 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
Moore, Graeme Patrick
London, Großbritannien
1.021
Patente gesamt
32
Fachgebiete
15
Anmelder-Länder
Schwerpunkte