Verfahren zum Messen einer zu messenden Substanz unter Verwendung fluoreszenter Partikel, Testsubstanzmess-Chip und Testsubstanz-Messkit

EP2574927 Art A1 3. April 2013

Anmelder: Fujifilm Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2574927
Aktenzeichen: EP12184647
Anmeldetag: 17. September 2012
Veröffentlichung: 3. April 2013
Rechtsraum: EP
IPC: G01N33/543G01N33/58

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Fujifilm Corporation
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Fujifilm

Japanischer Konzern, hervorgegangen aus der Fotofilmherstellung, heute aktiv in Bildgebung, Dokumentenlösungen, Materialwissenschaften sowie Diagnostik und Arzneimittelherstellung.

21.764 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

Vertreten von