Flexibler Speicherschnittstellentester mit Variablem Parallelismus und Firmware-Aktualisierbarkeit
EP2577466
Art A2
10. April 2013
Anmelder: ADVANTEST CORPORATION 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2577466
- Aktenzeichen
- EP11787137
- Anmeldetag
- 18. Mai 2011
- Veröffentlichung
- 10. April 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06F11/22G06F11/273G06F13/14G06F13/38
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ADVANTEST CORPORATION
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Advantest
Japanisches Unternehmen mit Sitz in Tokio, Hersteller von Testsystemen für Halbleiter und elektronische Bauteile.
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Fachgebiete
Vertreten von
Burger, Markus
München, Deutschland
420
Patente gesamt
26
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13
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Schwerpunkte