Absolutdistanzmessung mit einem mit mehreren Wellenlängen arbeitenden Interferometer

EP2581700 Art A1 17. April 2013

Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2581700
Aktenzeichen
EP12006482
Anmeldetag
14. September 2012
Veröffentlichung
17. April 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Canon Kabushiki Kaisha
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Canon

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.

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