Mehrwellenlängen-Interferometer, Messvorrichtung und Messverfahren

EP2587213 Art A1 1. Mai 2013

Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2587213
Aktenzeichen
EP12007158
Anmeldetag
16. Oktober 2012
Veröffentlichung
1. Mai 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G01B9/02
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
Canon Kabushiki Kaisha
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 Canon

Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.

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