Vorrichtung für Geladene Teilchenstrahlen und Probenherstellungsverfahren
EP2592643
Art B1
2. September 2020
Anmelder: Hitachi High-Tech Corporation, Hitachi High-Technologies Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2592643
- Aktenzeichen
- EP11803566
- Anmeldetag
- 5. Juli 2011
- Veröffentlichung
- 2. September 2020
- Erteilung
- 2. September 2020
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/30H01J37/305H01J37/317G01N1/32
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Hitachi High-Tech Corporation
Hitachi High-Technologies Corporation - Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Hitachi High-Tech Corporation
Japanisches Unternehmen der Hitachi-Gruppe, spezialisiert auf Analysegeräte, medizinische Diagnostik und Fertigungsanlagen für die Halbleiterindustrie.
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Vertreten von
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