Ultraschalldefekterkennungsvorrichtung und -verfahren für Testobjekte mit komplexen Formen
EP2594931
Art B1
28. Dezember 2016
Anmelder: Kabushiki Kaisha Toshiba 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2594931
- Aktenzeichen
- EP11806478
- Anmeldetag
- 12. Juli 2011
- Veröffentlichung
- 28. Dezember 2016
- Erteilung
- 28. Dezember 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N29/04G01N29/44
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Kabushiki Kaisha Toshiba
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Toshiba
Japanischer Konzern, der Elektronik, Halbleiter, Energie- und Infrastrukturtechnik sowie Industrieanlagen entwickelt und herstellt.
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Fachgebiete
Vertreten von
Delumeau, François Guy
Paris, Frankreich
1.043
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