Verfahren und Systeme für das Abrastern der Oberfläche eines Objekts unter Verwendung eines Teilchenstrahls
Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2615620
- Aktenzeichen
- EP13000219
- Anmeldetag
- 16. Januar 2013
- Veröffentlichung
- 22. April 2015
- Erteilung
- 22. April 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/304H01J37/305B23K15/08C23C14/30
Abstract
A method of raster scanning a surface of an object using a particle beam comprises determining a basic set of raster points within a surface; determining a surface portion of the surface of the object, wherein the surface portion is to be raster scanned; ordering a set of raster points of the basic set located within the surface portion; and scanning of the surface portion by directing the particle beam onto the raster points of the ordered set in an order corresponding to an order of the raster points in the ordered set from the outside to the inside, i.e. starting from the boundary of the surface portion towards its center, or in the reverse order, i.e. from the inside to the outside.
Anmelder
- Firma
- Carl Zeiss Microscopy GmbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.
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Vertreten von
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Diehl & Partner
Diehl & Partner · München
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Diehl & Partner GbR
Diehl & Partner GbR · München