Verfahren und Systeme für das Abrastern der Oberfläche eines Objekts unter Verwendung eines Teilchenstrahls

EP2615620 Art B1 22. April 2015

Anmelder: Carl Zeiss Microscopy GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2615620
Aktenzeichen
EP13000219
Anmeldetag
16. Januar 2013
Veröffentlichung
22. April 2015
Erteilung
22. April 2015
Rechtsraum
EP
IPC
H01J37/304H01J37/305B23K15/08C23C14/30
Offizieller Volltext

Abstract

A method of raster scanning a surface of an object using a particle beam comprises determining a basic set of raster points within a surface; determining a surface portion of the surface of the object, wherein the surface portion is to be raster scanned; ordering a set of raster points of the basic set located within the surface portion; and scanning of the surface portion by directing the particle beam onto the raster points of the ordered set in an order corresponding to an order of the raster points in the ordered set from the outside to the inside, i.e. starting from the boundary of the surface portion towards its center, or in the reverse order, i.e. from the inside to the outside.

Anmelder

Firma
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Carl Zeiss Microscopy GmbH

Deutscher Hersteller von Mikroskopen und Bildgebungssystemen für Forschung und Industrie, Teil der Zeiss-Gruppe.

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