Verfahren und Vorrichtung zur Messung einer Schicht mit Oberflächenhärtung

EP2618141 Art A1 24. Juli 2013

Anmelder: IHI Corporation 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2618141
Aktenzeichen
EP11825256
Anmeldetag
16. September 2011
Veröffentlichung
24. Juli 2013
Rechtsraum
EP
IPC
G01N29/00G01N29/30G01N29/07G01N29/02G01B17/02G01N29/44
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
IHI Corporation
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 IHI Corporation

Japanischer Industriekonzern mit Sitz in Tokio, tätig in den Bereichen Schwermaschinenbau, Luft- und Raumfahrttriebwerke sowie Anlagenbau.

1.709 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen