Messverfahren und -system für die thermische Eichung eines elektronischen Schaltkreises
EP2618375
Art A1
24. Juli 2013
Anmelder: The Swatch Group Research and Development Ltd. 🇨🇭
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2618375
- Aktenzeichen
- EP12151753
- Anmeldetag
- 19. Januar 2012
- Veröffentlichung
- 24. Juli 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01L27/02H01L23/34H03B5/04H03L1/02// G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- The Swatch Group Research and Development Ltd.
- Land
- 🇨🇭 Schweiz
🇨🇭
The Swatch Group Research and Development
Schweizer Forschungs- und Entwicklungsgesellschaft des Swatch-Konzerns, zuständig für Innovationen in Uhrwerktechnik, Materialien und Fertigungsverfahren für die Uhrenmarken der Gruppe.
951 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Ravenel, Thierry Gérard Louis
Neuchâtel, Schweiz
788
Patente gesamt
27
Fachgebiete
7
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Schwerpunkte