Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger
EP2631674
Art A1
28. August 2013
Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2631674
- Aktenzeichen
- EP12156720
- Anmeldetag
- 23. Februar 2012
- Veröffentlichung
- 28. August 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S17/46G01S17/10G01S7/487G01S7/497
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ELMOS Semiconductor AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
Fachgebiete
Vertreten von
Petirsch, Markus
Karlsruhe, Deutschland
48
Patente gesamt
21
Fachgebiete
3
Anmelder-Länder
Schwerpunkte