Oberflächenformmessverfahren und Messvorrichtung mit wellenlängenscannender Interferometrie
EP2636988
Art A1
11. September 2013
Anmelder: Canon Kabushiki Kaisha 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2636988
- Aktenzeichen
- EP13154752
- Anmeldetag
- 11. Februar 2013
- Veröffentlichung
- 11. September 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01B9/02G01B11/24
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Canon Kabushiki Kaisha
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
Canon
Japanischer Konzern mit Sitz in Tokio, der Kameras, Objektive, Drucker, Kopiergeräte sowie optische und medizinische Bildgebungstechnik entwickelt und herstellt.
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