Verfahren und Vorrichtung zur Vermessung eines mikro-elektromechanischen Halbleiterbauteils
EP2647041
Art B1
10. Dezember 2014
Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2647041
- Aktenzeichen
- EP11775785
- Anmeldetag
- 26. Oktober 2011
- Veröffentlichung
- 10. Dezember 2014
- Erteilung
- 10. Dezember 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01L9/00G01L27/00G01R31/27G01R31/28B81C99/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ELMOS Semiconductor AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Elmos Semiconductor
Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.
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