Verfahren und System zum Messen einer Oberflächentemperatur
EP2653843
Art A1
23. Oktober 2013
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2653843
- Aktenzeichen
- EP11849442
- Anmeldetag
- 9. Dezember 2011
- Veröffentlichung
- 23. Oktober 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01J5/52G01J5/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
3.785 Patente in unserer Datenbank
Fachgebiete
Vertreten von
-
Hoffmann Eitle
Hoffmann Eitle · München