Sensorsystem und Verfahren zur Vermessung der Übertragungseigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen einem Sender und einem Empfänger
EP2653885
Art A1
23. Oktober 2013
Anmelder: ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2653885
- Aktenzeichen
- EP12164554
- Anmeldetag
- 18. April 2012
- Veröffentlichung
- 23. Oktober 2013
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S7/497G01S7/486
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ELMOS Semiconductor AG
- Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Elmos Semiconductor
Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.
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