Verfahren zur Überwachung von Schleifanomalien und Vorrichtung zur Überwachung von Schleifanomalien
EP2666591
Art B1
3. Juli 2019
Anmelder: JTEKT Corporation 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2666591
- Aktenzeichen
- EP11856276
- Anmeldetag
- 22. Dezember 2011
- Veröffentlichung
- 3. Juli 2019
- Erteilung
- 3. Juli 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- B24B49/16
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- JTEKT Corporation
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
JTEKT
Japanischer Konzern aus Nagoya, hervorgegangen aus Koyo Seiko und Toyoda Machine Works, tätig in Lenksystemen, Wälzlagern und Werkzeugmaschinen für Automobil- und Industrieanwendungen.
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