Mikroelektromechanisches Bauelement und Verfahren zum Testen eines Mikroelektromechanischen Bauelements
EP2668483
Art B1
18. November 2015
Anmelder: Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft, Silicon Microstructures, Inc., ELMOS Semiconductor Aktiengesellschaft, ELMOS Semiconductor AG 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2668483
- Aktenzeichen
- EP12708743
- Anmeldetag
- 27. Januar 2012
- Veröffentlichung
- 18. November 2015
- Erteilung
- 18. November 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01L27/00B81C99/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft
Silicon Microstructures, Inc.
ELMOS Semiconductor Aktiengesellschaft
ELMOS Semiconductor AG - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Elmos Semiconductor
Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.
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