Mikrostruktur-Analyseverfahren, Programm dafür und Mikrostruktur-Analysevorrichtung

EP2669667 Art B1 28. Juni 2017

Anmelder: NGK Insulators, Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2669667
Aktenzeichen
EP13750617
Anmeldetag
21. März 2013
Veröffentlichung
28. Juni 2017
Erteilung
28. Juni 2017
Rechtsraum
EP
IPC
G01N23/04G01N15/08
Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma
NGK Insulators, Ltd.
Land
🇯🇵 Japan
🇯🇵 NGK Insulators

Japanisches Industrieunternehmen mit Sitz in Nagoya. NGK Insulators fertigt Keramikprodukte, darunter Isolatoren, Abgaskatalysatorträger, Sensoren und Energiespeichersysteme für Energieversorgung, Automobil und Industrie.

3.021 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen