Neuabtastung von S-Parametern für serielle Datenstreckenanalyse
EP2680452
Art B1
21. Januar 2015
Anmelder: Tektronix, Inc., TEKTRONIX, INC. 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2680452
- Aktenzeichen
- EP13172503
- Anmeldetag
- 18. Juni 2013
- Veröffentlichung
- 21. Januar 2015
- Erteilung
- 21. Januar 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H04B3/46G01R27/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Tektronix, Inc.
TEKTRONIX, INC. - Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Tektronix, Inc.
US-amerikanischer Hersteller von Test- und Messgeräten (Oszilloskope, Signalanalysatoren), Teil des Fortive-Konzerns. Patente betreffen elektronische Mess- und Prüftechnik.
498 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Clarke, Jeffrey David
Sheffield, Großbritannien
394
Patente gesamt
17
Fachgebiete
6
Anmelder-Länder
Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Clarke, Jeffrey
NoneSheffield
-
Brinck, David John Borchardt
NoneLondon