Kapazitiver Drucksensor in einer umgossenen Verpackung

EP2693184 Art A3 12. August 2015

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2693184
Aktenzeichen
EP13177186
Anmeldetag
19. Juli 2013
Veröffentlichung
12. August 2015
Rechtsraum
EP
IPC
G01L19/14
Offizieller Volltext

Abstract

An overmolded pressure sensor package (200, 500, 600, 700, 800) is provided. The pressure sensor die (Pcell) (240, 640, 750, 850) is capped so that the Pcell has enhanced rigidity to withstand stress effects produced by the molding encapsulant (410, 510, 670, 780, 880). The Pcell cap (310, 640, 740, 840) includes a hole (330, 650, 745, 845) located away from the Pcell diaphragm (250, 635, 755, 855), so that external gas pressure can be experienced by the Pcell, while at the same time directing moisture away from the diaphragm. Gel does not need to be used, and instead a soft film can be deposited on the Pcell to protect the Pcell diaphragm from excess moisture, if needed. The Pcell cap can take the form of, for example, a dummy silicon wafer (310, 740) or a functional ASIC (640, 840).

Anmelder

Firma
Freescale Semiconductor, Inc.
Land
🇺🇸 USA
🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

2.392 Patente in unserer Datenbank

Noch Fragen?

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Schreiben Sie uns einfach.

Kontakt aufnehmen