Weitfeld-Mikroskop-Beleuchtungssystem und Weitfeld-Beleuchtungsverfahren

EP2697678 Art B1 11. Dezember 2019

Anmelder: Leica Microsystems CMS GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2697678
Aktenzeichen: EP12714681
Anmeldetag: 11. April 2012
Veröffentlichung: 11. Dezember 2019
Erteilung: 11. Dezember 2019
Rechtsraum: EP
IPC: G02B21/08G02B21/12G02B21/16G01N21/64G02B21/36

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Leica Microsystems CMS GmbH
Land: 🇩🇪 Deutschland

🇩🇪 Leica Microsystems

Deutsches Unternehmen für optische und digitale Mikroskopie, entwickelt Mikroskope und Bildgebungssysteme für Forschung, Industrie und medizinische Diagnostik.

770 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Optik & Fototechnik

Vertreten von