Verwendung Variabler Xic-Breiten von Tof-Msms-Daten zur Bestimmung von Hintergrund-Interferenzen in Srm-Assays

EP2715770 Art B1 24. November 2021

Anmelder: DH Technologies Development Pte. Ltd. 🇸🇬

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2715770
Aktenzeichen
EP12738172
Anmeldetag
30. Mai 2012
Veröffentlichung
24. November 2021
Erteilung
24. November 2021
Rechtsraum
EP
IPC
H01J49/00G16C20/20
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
DH Technologies Development Pte. Ltd.
Land
🇸🇬 Singapur
🇸🇬 DH Technologies Development Pte. Ltd.

Singapurische Patentverwaltungsgesellschaft im Danaher-Konzern, verbunden mit der Massenspektrometrie-Marke Sciex. Patente betreffen analytische Messgeräte und Massenspektrometrie.

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