Dreidimensionale Messvorrichtung und dreidimensionales Messsystem

EP2722645 Art B1 9. Mai 2018

Anmelder: Kabushiki Kaisha Topcon 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2722645
Aktenzeichen: EP13188772
Anmeldetag: 15. Oktober 2013
Veröffentlichung: 9. Mai 2018
Erteilung: 9. Mai 2018
Rechtsraum: EP
IPC: G01C1/04G01C15/00

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Kabushiki Kaisha Topcon
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Kabushiki Kaisha Topcon

Topcon ist ein japanischer Hersteller von Mess-, Vermessungs- und ophthalmologischen Geräten sowie Positionierungstechnik. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Software und Optik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2017.

599 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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