Oktopolvorrichtung und -verfahren zur Punktgrößenverbesserung
EP2722868
Art B2
26. März 2025
Anmelder: ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2722868
- Aktenzeichen
- EP12188686
- Anmeldetag
- 16. Oktober 2012
- Veröffentlichung
- 26. März 2025
- Erteilung
- 26. März 2025
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/153G21K1/093
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH
- Land
- 🇩🇪 Deutschland