Temperaturmessung einer Aktiven Vorrichtung im Test auf einem Streifentester
EP2732297
Art B1
16. Oktober 2019
Anmelder: Microchip Technology Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2732297
- Aktenzeichen
- EP12737974
- Anmeldetag
- 9. Juli 2012
- Veröffentlichung
- 16. Oktober 2019
- Erteilung
- 16. Oktober 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Microchip Technology Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Microchip Technology
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Chandler, Arizona, bekannt für Mikrocontroller und analoge Halbleiterbauelemente.
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Fachgebiete
Vertreten von
Grubert, Andreas
München, Deutschland
875
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31
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11
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sgb europe · Hohenschäftlarn