Abschirmung des Siliziums von externen RF-Interferenzen

EP2741326 Art B1 16. März 2016

Anmelder: NXP B.V. 🇳🇱

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2741326
Aktenzeichen
EP13193639
Anmeldetag
20. November 2013
Veröffentlichung
16. März 2016
Erteilung
16. März 2016
Rechtsraum
EP
IPC
H01L23/48H01L23/522H01L23/552H01L23/66H01L21/768
Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma
NXP B.V.
Land
🇳🇱 Niederlande
🇳🇱 NXP Semiconductors

Niederländischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Eindhoven. Entwickelt Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation, Sicherheit sowie industrielle Anwendungen.

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