Verfahren und System zum Messen des Widerstandes einer resistiven Struktur
Anmelder: Linear Technology Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2752672
- Aktenzeichen
- EP14000004
- Anmeldetag
- 2. Januar 2014
- Veröffentlichung
- 13. November 2019
- Erteilung
- 13. November 2019
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R17/10G01R27/14G01R35/00G01R1/20G01R27/16
Abstract
Method and system for measuring the resistance of a resistive structure having at least three nodes. A first calibration signal is determined by measuring a voltage at an output of the resistance structure when no calibration current is injected into a third node between the first and second nodes of the structure. A calibration current is then injected into the third node and a second calibration signal is determined. The absolute value of the difference between the first calibration signal and the second calibration signal is determined, the absolute value being proportional to a product of the resistance of the resistive structure and the calibration current.
Anmelder
- Firma
- Linear Technology Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
Linear Technology war ein US-amerikanischer Hersteller analoger Halbleiterbauelemente, seit 2017 Teil von Analog Devices. Das Patentportfolio konzentriert sich auf elektrische Energie- und Schaltungstechnik sowie Nachrichtentechnik. Die Anmeldungen aus 2000 bis 2019 betreffen unter anderem Regler bei geringer Last und segmentierte Wickeltechniken für gekoppelte Induktoren.
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