Messsystem

EP2754996 Art B1 21. September 2016

Anmelder: Micronas GmbH 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2754996
Aktenzeichen
EP14000106
Anmeldetag
13. Januar 2014
Veröffentlichung
21. September 2016
Erteilung
21. September 2016
Rechtsraum
EP
IPC
G01D5/14G01B7/14
Offizieller Volltext

Abstract

Messsystem mit einer Magnetfeldsensoranordnung (10), die einen in einem Halbeiterchip integrierten ersten Magnetfeldsensor (11) zur Messung einer ersten Komponente (B x ) eines Magnetfeldvektors ( B ) in einer ersten Raumrichtung (x) und einen im Halbeiterchip integrierten zweiten Magnetfeldsensor (12) zur Messung einer zweiten Komponente (B z ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer zweiten Raumrichtung (z) und einen im Halbeiterchip integrierten dritten Magnetfeldsensor (13) zur Messung einer dritten Komponente (B y ) des Magnetfeldvektors ( B ) in einer dritten Raumrichtung (y) aufweist, mit einem Geber (30), der ausgebildet ist, in Abhängigkeit von seiner rotatorischen und/oder translatorischen Bewegung den Magnetfeldvektor ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) und in der dritten Raumrichtung (y) zu ändern, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der ersten Raumrichtung (x) und in der zweiten Raumrichtung (z) einer erste Periodizität (T1) aufweist, wobei die durch die Bewegung des Gebers (30) bewirkte Änderung des Magnetfeldvektors ( B ) in der dritten Raumrichtung (y) eine zweite Periodizität (T2) aufweist, wobei eine erste Periode der ersten Periodizität (T1) und eine zweite Periode der zweiten Periodizität (T2) unterschiedlich sind, mit einer Auswertungsschaltung (20), an die der erste Magnetfeldsensor (11) und der zweite Magnetfeldsensor (12) und der dritte Magnetfeldsensor (13) angeschlossen sind, wobei die Auswertungsschaltung (20) eine Logik (25) aufweist, die eingerichtet ist, die Position des Gebers (30) basierend auf einem ersten Messsignal (A) des ersten Magnetfeldsensors (11) und einem zweiten Messsignal (B) des zweiten Magnetfeldsensors (12) und einem dritten Messsignal (C) des dritten Magnetfeldsensors (13) zu bestimmen.

Anmelder

Firma
Micronas GmbH
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 Micronas

Micronas war ein deutsch-schweizerisches Halbleiterunternehmen mit Sitz in Freiburg, das inzwischen zu TDK gehört. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Nachrichtentechnik und Halbleitertechnik. Die Anmeldungen stammen aus den Jahren 2000 bis 2016.

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