Ophthalmische Analysevorrichtung und ophthalmisches Analyseprogramm

EP2759254 Art B1 21. November 2018

Anmelder: Nidek Co., Ltd. 🇯🇵

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2759254
Aktenzeichen: EP14152258
Anmeldetag: 23. Januar 2014
Veröffentlichung: 21. November 2018
Erteilung: 21. November 2018
Rechtsraum: EP
IPC: A61B3/10A61B5/00G06T7/00G01B9/02

Offizieller Volltext

Abstract

Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.

Anmelder

Firma: Nidek Co., Ltd.
Land: 🇯🇵 Japan

🇯🇵 Nidek

Nidek ist ein japanischer Hersteller ophthalmologischer Geräte, etwa für Diagnostik und Laserbehandlung am Auge. Das Patentportfolio konzentriert sich entsprechend auf Medizintechnik und Gesundheit, ergänzt durch Werkzeug-, Fertigungs- und Drucktechnik sowie Optik und Fototechnik. Anmeldungen erstrecken sich von 2000 bis 2025.

640 Patente in unserer Datenbank

Fachgebiete

Medizintechnik & Gesundheit Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

Vertreten von