Dynamisches Nachweisverfahren für latente, langsam löschbare Bits für hohe Leistung und Flash-Speicher mit hoher Zuverlässigkeit

EP2760027 Art B1 15. März 2017

Anmelder: NXP USA, Inc., Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2760027
Aktenzeichen: EP14150661
Anmeldetag: 9. Januar 2014
Veröffentlichung: 15. März 2017
Erteilung: 15. März 2017
Rechtsraum: EP
IPC: G11C16/34

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firmen: NXP USA, Inc.
Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 NXP USA

US-amerikanische Gesellschaft des Halbleiterkonzerns NXP, die Chips und Halbleiterlösungen für Automobiltechnik, Kommunikation und Industrieelektronik entwickelt.

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Fachgebiete

Akustik, Musik & Datenspeicherung

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