Differenzstrommessungen zur Ionenstrombestimmung bei Auftreten eines Leckstroms
EP2764353
Art B1
9. September 2015
Anmelder: Microchip Technology Incorporated 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2764353
- Aktenzeichen
- EP12780347
- Anmeldetag
- 4. Oktober 2012
- Veröffentlichung
- 9. September 2015
- Erteilung
- 9. September 2015
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01N27/66G08B17/11
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Microchip Technology Incorporated
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
Microchip Technology
US-amerikanischer Halbleiterhersteller mit Sitz in Chandler, Arizona, bekannt für Mikrocontroller und analoge Halbleiterbauelemente.
1.426 Patente in unserer Datenbank
Vertreten von
Grubert, Andreas
München, Deutschland
875
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Fachgebiete
11
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