Halbleitertestvorrichtung und Halbleitertestverfahren

EP2772861 Art A1 3. September 2014

Anmelder: Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd 🇰🇷

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2772861
Aktenzeichen: EP14275032
Anmeldetag: 25. Februar 2014
Veröffentlichung: 3. September 2014
Rechtsraum: EP
IPC: G06F11/263G01R31/3183

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd
Land: 🇰🇷 Südkorea

🇰🇷 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd.

Südkoreanischer Hersteller elektronischer Bauteile wie Kondensatoren, Kamerakomponenten und Leiterplatten, Teil der Samsung-Gruppe. Patente betreffen Elektronikkomponenten.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik Software & Datenverarbeitung

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