System und Verfahren für Automatisierte Defekterkennung anhand von Vorherigen Daten
EP2774118
Art A1
10. September 2014
Anmelder: United Technologies Corporation 🇺🇸
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2774118
- Aktenzeichen
- EP12798915
- Anmeldetag
- 2. November 2012
- Veröffentlichung
- 10. September 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G06T7/00
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- United Technologies Corporation
- Land
- 🇺🇸 USA
🇺🇸
RTX Corporation
US-amerikanischer Luft- und Raumfahrt- sowie Verteidigungskonzern, entstanden aus Raytheon und United Technologies. Entwickelt und fertigt Triebwerke, Avionik, Radarsysteme, Raketen- und Verteidigungstechnik für zivile und militärische Kunden.
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Fachgebiete
Vertreten von
Bridge, Kerry Ann
München, Deutschland
582
Patente gesamt
28
Fachgebiete
8
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Schwerpunkte
Weitere Vertreter
-
Dehns
Dehns · London