Kontaktloses Mikrowellenmesssystem zur Messung des Abstands einer Reflektierenden Oberfläche
EP2786171
Art B1
21. September 2016
Anmelder: Czech Technical University in Prague - Faculty of Electrical Engineering 🇨🇿
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2786171
- Aktenzeichen
- EP12766374
- Anmeldetag
- 29. August 2012
- Veröffentlichung
- 21. September 2016
- Erteilung
- 21. September 2016
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S7/03G01F23/284G01S13/40G01S13/88
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- Czech Technical University in Prague - Faculty of Electrical Engineering
- Land
- 🇨🇿 Tschechien
Fachgebiete
Kanzlei
PATENT-K - Ing. Václav Kratochvíl
Mnichovo Hradiště, Tschechien
1991 von Ing. Václav Kratochvíl gegründete tschechische Patent- und Markenkanzlei, bearbeitet Patent-, Gebrauchsmuster- und Markenanmeldungen vor tschechischem Patentamt und EPA, bietet zudem Recherchen und Beratung zu Lizenzverträgen.
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