Spektrometer und Verfahren zum Betrieb

EP2787332 Art B1 20. Februar 2019

Anmelder: SICK AG 🇩🇪

Details

Veröffentlichungs-Nr.
EP2787332
Aktenzeichen
EP13162144
Anmeldetag
3. April 2013
Veröffentlichung
20. Februar 2019
Erteilung
20. Februar 2019
Rechtsraum
EP
IPC
G01J3/42G01J3/02G01J1/42
Offizieller Volltext

Abstract

Die Erfindung betrifft ein Spektrometer mit einer ersten Lichtquelle (12), die Lichtstrahlung (24) in einem ersten Wellenlängenbereich erzeugt, einer zweiten Lichtquelle (14), die Lichtstrahlung (26) in einem zweiten Wellenlängenbereich erzeugt, einer Spiegeleinheit (16) zur Umlenkung der Lichtstrahlung (24, 26) in eine Messstrecke (18), wobei die Strahlung (24, 26) beider Wellenlängenbereiche die Messstrecke (18) auf dem gleichen optischen Pfad durchläuft, einem Detektor (20) zum Nachweis der die Messstrecke (18) durchlaufenen Strahlung (24, 26) und mit einer Auswerteeinheit (22) zum Auswerten der auf den Detektor (20) auftreffenden Strahlung (24, 26) und Bestimmen einer Konzentration einer in der Messstrecke (18) vorliegenden Messgaskomponente. Um ein verbessertes Spektrometer bereit zu stellen, mit dem auf kostengünstige Weise eine Mehrkanaligkeit erreicht werden kann und ein entsprechendes Verfahren zum Betrieb eines solchen Spektrometers bereit zu stellen, wird vorgeschlagen, dass die Spiegeleinheit (16) als Mikrospiegelarray (32) ausgebildet ist und ein einzelner Mikrospiegel (34) nur einen Teil der Strahlung (24, 26) umlenkt.

Anmelder

Firma
SICK AG
Land
🇩🇪 Deutschland
🇩🇪 SICK

Deutsches Unternehmen mit Sitz in Waldkirch, das Sensoren und Sensorlösungen für industrielle Automatisierung, Fabrik-, Logistik- und Prozessautomation entwickelt und herstellt.

1.327 Patente in unserer Datenbank

Kanzlei
Sick AG Waldkirch, Deutschland
292
Patente gesamt
1
Patentanwälte
1
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