Zweistufige Verbindungsprüfung von Halbleiterchips
EP2790027
Art B1
18. Oktober 2017
Anmelder: IMEC VZW, IMEC 🇧🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2790027
- Aktenzeichen
- EP13162824
- Anmeldetag
- 8. April 2013
- Veröffentlichung
- 18. Oktober 2017
- Erteilung
- 18. Oktober 2017
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01R31/3185H01L25/065G01R31/26H01L21/66
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- IMEC VZW
IMEC - Land
- 🇧🇪 Belgien
🇧🇪
imec
Imec ist ein belgisches Forschungszentrum mit Sitz in Leuven, das auf Nanoelektronik, Halbleitertechnologie und digitale Technologien spezialisiert ist.
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Vertreten von
Hertoghe, Kris Angèle Louisa
Winksele, Belgien
169
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26
Fachgebiete
5
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Schwerpunkte