Schätzung des Schiefstellungswinkels einer Seitenwand einer Struktur

EP2796833 Art A3 5. November 2014

Anmelder: Freescale Semiconductor, Inc. 🇺🇸

Details

Veröffentlichungs-Nr.: EP2796833
Aktenzeichen: EP14164623
Anmeldetag: 14. April 2014
Veröffentlichung: 5. November 2014
Rechtsraum: EP
IPC: G01C19/56G01C19/5656G01C19/5663G01C25/00G01B5/24

Offizieller Volltext

Abstract

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Anmelder

Firma: Freescale Semiconductor, Inc.
Land: 🇺🇸 USA

🇺🇸 Freescale Semiconductor

Ehemaliger US-amerikanischer Halbleiterhersteller, hervorgegangen aus einem Spin-off von Motorola, mit Schwerpunkt auf Mikrocontrollern und eingebetteten Prozessoren. Seit 2015 Teil von NXP Semiconductors.

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Fachgebiete

Mess-, Prüf- & Zeitmesstechnik

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