Probenträgerelement zur Beobachtung eines Rasterelektronenmikroskopbildes und Verfahren zur Beobachtung eines Rasterelektronenmikroskopbildes
EP2800123
Art A1
5. November 2014
Anmelder: National Institute of Advanced Industrial Science and Technology 🇯🇵
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2800123
- Aktenzeichen
- EP12863530
- Anmeldetag
- 26. Dezember 2012
- Veröffentlichung
- 5. November 2014
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- H01J37/20H01J37/09H01J37/18H01J37/28
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firma
- National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
- Land
- 🇯🇵 Japan
🇯🇵
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology
Staatliches japanisches Forschungsinstitut (AIST), das breit angelegte angewandte Forschung in Bereichen wie Materialwissenschaft, Energie, Elektronik und Biotechnologie betreibt.
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Fachgebiete
Kanzlei
WP Thompson
Bereits 1873 gegründet, eine der traditionsreichsten britischen Patent- und Markenkanzleien mit Büros in London, Liverpool und Cardiff. Begleitet von der Anmeldung bis zur Verwertung, einschließlich Litigation vor dem Einheitlichen Patentgericht.
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