Verfahren und Sensorsystem zur Vermessung der Eigenschaften einer Übertragungsstrecke eines Messsystems zwischen Sender und Empfänger
EP2817657
Art B1
21. November 2018
Anmelder: Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft, ELMOS Semiconductor AG, ELMOS Semiconductor Aktiengesellschaft 🇩🇪
Details
- Veröffentlichungs-Nr.
- EP2817657
- Aktenzeichen
- EP12808829
- Anmeldetag
- 21. Dezember 2012
- Veröffentlichung
- 21. November 2018
- Erteilung
- 21. November 2018
- Rechtsraum
- EP
- IPC
- G01S17/46G01S17/10G01S7/487G01S7/497G01S17/02
Abstract
Für dieses Patent liegt uns kein Abstract vor.
Anmelder
- Firmen
- Elmos Semiconductor Aktiengesellschaft
ELMOS Semiconductor AG
ELMOS Semiconductor Aktiengesellschaft - Land
- 🇩🇪 Deutschland
🇩🇪
Elmos Semiconductor
Elmos Semiconductor ist ein deutscher Halbleiterhersteller mit Sitz in Dortmund, spezialisiert auf integrierte Schaltungen für die Automobilindustrie. Das Patentportfolio konzentriert sich auf Mess-, Prüf- und Zeitmesstechnik sowie Elektronik- und Kommunikationstechnik.
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